MV-CI013-GS-NN支持0.4 ~ 1.7μm 宽光谱成像，将可见光和短波波段的响应融于一台相机，打破了原先仅仅响应于可见光或者SWIR波段的传感器局限，有助于削减系统成本，通过减轻图像处理负荷提升处理速度，大幅度扩展检测对象的领域和范围。

相机机身结构设计紧凑，能大幅缩小相机所占空间，在各类工业检测设备有限的空间内，可以更好地做适配。

MV-CI013-GS-NN精简了TEC制冷和风扇制冷系统，大幅降低了功耗，从根源上减少了噪声的引入，让相机在中低曝光下的成像同样保持细腻。搭配独有的ISP图像调节算法，可最大化呈现缺陷细节。

硅在 1.1μm以上的波长下是透明的。因此，在优良波段1.5μm的短波下，相机可拍摄到硅片的底层结构，可检测硅片隐裂等缺陷；或拍摄TFT显示屏的背面，检测触点质量。

发光成像有助于通过使硅片或太阳能电池发光，来识别硅片或太阳能电池中的非均匀性，如EL、PL等。

SWIR可以透过多种材料。如不同材质的物品，在特定的红外波段下，会根据吸收、反射程度而呈现透明、半透明、白色、黑色等不同状态，适用于同色材料分选，塑料内部填充物检测、深色物品内部划痕等。

水在特定的波长上有强烈的吸收作用，如在1.45μm波段下，水的吸收能力较强，所以在图像中显得比较暗。含水量少的部分，反射率会强烈增加，图像亮度较高。